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粗糙度仪SURTRONIC 116

发布时间:2014-07-24浏览次数:
Surtronic S-100系列Surtronic S-100系列Surtronic S-100系列Surtronic S-100系列
Surtornic116是SURTRONIC 系列仪器中的全新一员,拥有4.3寸的触摸全屏,电池持久力可保证2000次测量。屏幕图形功能和USB链接功能保证了全新的S-100系列仪器功能的最大化实现。

专为车间环境、生产和检测间的应用所设计,S-100能够对所有的粗糙度测量需求提供多样化的解决办法。并且对特殊要求能够量体裁衣的制定不同的应用专用配件。

S-100 series广泛使用于各种生产企业,尤其是精密轴承、汽车以及航天工程,S-100 series的关键性能,对于现今的精密行业对质量控制能够发挥重要的作用。

•适合不同应用的高级参数选择
•USB连接充电,USB数据储存或打印
•在测针能力范围内可测量任何表面、任何高度
•防滑的V型脚架意味着系统可应用在光滑或者曲面
•持久设计- 耐冲击涂胶造型设计
•一次充电可进行2000次测量
•Taylor Hobson提供人工制品和仪器提供全面认证,认证都是在我们建立的ISO 分级的UKAS设施洁净室。

S系列有两种型号可供选择: S-116是标准产品,S-128则能够提供提高测量范围和分析能力。
 
   一、S116标准配置
显示单元
112-1502标准测针
测针连接线
多刻线样板
测针提升机构
USB接口充电器
使用手册
USB通讯电缆
仪器箱
 
二、技术参数
数据显示
显示屏每页显示7个测试结果,屏幕上可显示轮廓图(剖面图)
可以打印测试结果和图形
使用Talyprofile软件可以连接电脑,分析测试结果;
触摸屏可以四个方向转动,方便不同位置观看测试状态;
数据存储:
仪器可以存储100个测试数据和一个图形
仪器支持U盘最大4G,最多可存储39,000个图形,每批可存储10万个测试结果,共70批数据。
使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。
电源:
充电器 :USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充电时间:4小时
电池寿命:充电一次可以做2000次测试
待机时间:5000小时
由待机状态到开机测试状态,最长时间不超过1秒I
自动关机:30秒– 6小时可以自行设置
 
三、技术指标:
测量范围:200 um 100 um 10 um
分辨率:  100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm
重复精度 (Ra) :1%测试值+底噪
传感器原:电感
测量力:150-300mg
测针针尖半径:标配5 μm (200 μin)
可选2μm(80μin)或10μm(400μin)
测试方式:滑动扫描
校准:
自动软件校准
标准:ISO4287
 
四、测试参数:
三个取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm
二个滤波器:2CR、Gaussian
评定长度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选
最大行程:17.5mm
测试速度:
测试速度:1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)
测试参数:
执行标准:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO标准可以测量12个参数: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME标准可以测量11个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS标准可以测量14个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 :R3z (Daimler Benz)
测试单位:um/uin
 
五、可选附件
测试平台:
00级大理石平板:400X250X70mm
有效高度:280mm。
 
可调Y轴V型铁
可调范围:±5mm
V型铁长度100mm
 
 
S116比S25有如下改进:
1、电池由碱性9V改为锂电充电电池;
2、显示屏为触摸屏;
3、可以显示测试图形;
4、S25只能测试10个参数,S116在不同标准下可以测量12、11、14个参数(见技术参数);
5、原来S25使用电位器校准测试结果,现在改为自动软件校准。方便使用;
6、显示屏显示的结果(数据和图形)可以旋转,可以方便的从四个方向观察测试结果;
7、仪器底部为V形,测试轴类部件方便可靠;
8、测试数据存储增加了存储图形功能;
9、可以使用U盘直接存储,一个4G容量U盘可存储3.9万个图形,数据可以存储70批次,每批次为10万个测试数据。